在绝缘电阻测试时,在某些场合用户需自设定仪表的测量参数,以满足绝缘性能测试的要求。ETCR3500系列和ETCR3520系列高压绝缘电阻测试仪提供了自设定:输出电压、测试时间、计算公式等多种测量参数,下面介绍自设定方法:
1、 输出电压和测试时间自设定:
设定方法:将仪表的档位旋转到VS档,进入自设定界面,通过按下电压显示窗口两侧的
![](/Upload/1716543338.png)
按钮,选择修改输出电压参数,设定范围:40V~最高量程,步进:10V;通过按下时间显示窗口两侧的
![](/Upload/1716543385.png)
按钮选择修改测试时间参数,设定范围:10s~60min,步进:5s。
2、 吸收比、极化指数,介质放电指数计算公式选择:
选择方法:在绝缘电阻测量界面,向左滑动2次,进入计算公式选择界面,点击公式前的小方框即可选定计算公式。
极化指数(PI)测量
极化指数是指测试10分钟内的绝缘电阻与1分钟内的绝缘电阻之间的比值。极化指数测试耗时10分钟。当绝缘测试时间为10分钟或更长时,极化测试将完成并保存。在设置测量模式时,也可自选PI计算公式。
极化指数(PI) |
>4 |
4~2 |
2.0~1.0 |
<1.0 |
绝缘状况 |
很好 |
良好 |
存在问题 |
不良 |
吸收比(DAR)测量
吸收比是指测试1分钟内的绝缘电阻与15秒内的绝缘电阻之间的比值。吸收比测试需要1分钟完成。因此,对于所有小于1分钟的绝缘测试,测量数据将被存储为无效数据。当绝缘测试时间为1分钟或更长时,吸收比保存在测试结果中。在设置测量模式时,也可自选DAR计算公式。
吸收比(DAR) |
>1.4 |
1.25~1.0 |
<1.0 |
绝缘状况 |
很好 |
良好 |
不良 |
介质放电指数测试(DD)测量
此试验适用于多层绝缘的诊断。是通过测定测试完成1分钟后的放电电流值及被测物的电容值来判断多层绝缘物体中的不良情况的好方法。一般建议500V电压充电30分钟,测量其电容及1分钟后的残余电流。在设置测量模式时,可自选DD计算公式。
DD值判定标准 |
<2.0良好 |
2.0~4.0要注意 |
4.0~7.0不良 |
>7.0较差 |
铱电测控专注于ETCR3500、ETCR3520高压绝缘电阻测试仪的研发生产,是5kV高压绝缘电阻测试仪,10kV高压绝缘电阻测试仪,15kV高压绝缘电阻测试仪,绝缘电阻在线测试仪的生产厂家,铱电测控服务热线:400-006-0068,了解更多请访问铱电测控官网:www.etcr.net